JQLD-1精密光電露點儀
產品簡介:該儀器采用濕度絕對測量方法-露點法原理進行測量,通過半導體制冷、鏡面冷凝、光電檢測方法精密地測量氣體的露點濕度。
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功能及應用范圍:
   該儀器采用濕度絕對測量方法-露點法原理進行測量,通過半導體制冷、鏡面冷凝、光電檢測方法精密地測量氣體的露點濕度。
該儀器滿足濕度傳遞標準的技術要求,可以廣泛應用于空氣、氮氣等非腐蝕非爆炸性氣體的濕度測量,以及環境溫濕度的測量、濕度測量儀器、濕度發生器、濕度傳感器、環境試驗箱的校準及測試工作

技術指標: 
  露點濕度測量范圍及最大允差:
(-20~+40)℃,MPE: ±0.2℃
(-50~-20)℃,MPE: ±0.3℃
(-70~-50)℃,MPE: ±0.5℃
溫度測量范圍及最大允差:
(-40~+90)℃,MPE: ±0.1℃
根據工作范圍可選以下露點傳感器:
(1) A型露點傳感器:
(-10~+40)℃,自然散熱
(2) B型露點傳感器:
(-50~+20)℃,風冷散熱
(3) C型露點傳感器:
(-70~+20)℃,風冷與水冷散熱
。

  露點濕度測量范圍及最大允差:
(-20~+40)℃,MPE: ±0.2℃
(-50~-20)℃,MPE: ±0.3℃
(-70~-50)℃,MPE: ±0.5℃
溫度測量范圍及最大允差:
(-40~+90)℃,MPE: ±0.1℃
根據工作范圍可選以下露點傳感器:
(1) A型露點傳感器:
(-10~+40)℃,自然散熱
(2) B型露點傳感器:
(-50~+20)℃,風冷散熱
(3) C型露點傳感器:
(-70~+20)℃,風冷與水冷散熱
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